MEGA LED TESTER 高速LED检测系统
MEGA LED TESTER測試儀已完全重新設計，為符合測量精確及LED生產高速測試需求，整合了先鋒科技研發的MegaLED-SGM CCD攝譜儀及高速的MegaLED-3000系列LED電性分析儀, MEGA LED TESTER可用來測試所有LED相關之光學與電性參數。
在生產過程中快速測量LED參數對於儀器是項特別的挑戰，因為符合CIE的測量標準時，出光效率非常低；在這同時，確保生產設備可以有效益生產的運轉，高速的測量時間是必要的，多項的LED的光學與電性參數測試均涵蓋其中，不同封裝的LED適用範圍也必須由小的SMT設計以至於高功率的LED。
◆Spectral radiant flux ( W/nm ):絕對光譜
◆Peak wavelength (λp) : 最高波長
◆Dominant wavelength (Hue；λd )： 色域波長
◆Center wavelength (λc): 中心波長
◆Excitation Purity (Chroma；%): 色純度
◆Chromaticity Coordinates (x,y @1931)：色座標
◆C.C.T. (correlated color temperature) : 色溫
◆C.R.I. (color rendering index ) : 演色指數
MegaLED-SGM100確保了主要的測量參數最高精確度及再現性，如LED主波長及的色座標等，在傳統高速的電性測量速度下，對MegaLED-SGM100測量速度要求加快許多。如圖所示，其清楚的描述客戶確實可以減少電子測量的時間，尤其是搭配LED分選機高速的測試需求。
新的可調式使用者介面組態與擴充的陣列功能合併，以符合所有分BIN的要求。新的裝置特徵系依據統計分析及整體性考慮，也是針對白光晶圓與Lamp LED分選設備，都搭配了專用探測模組。 |
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無光纖設計 無損失直接光訊號傳輸方式
完整的測量配置（光強，光通量，色彩值，輻射模式的測量）
快速測量週期 <30mS
完全相容 CIE127-2007 測量標準 ，NIST 標準溯源
經濟完備的CCD分光技術 以及智慧化色彩分析軟體
可以連接系統各選項的光強與光通量探頭
優化的品質保證
MegaLED軟體，DLLs的驅動。
光強 [cd]
光通量[LM]
主波長，中心波長，波峰測量
色座標，色溫，演色指數
空間輻射模式
SGM100光學檢測系統是採用完備的CCD與光柵分光技術來測量LED的發光特性與參數。各種光學適配器都可以根據測量需要，可以搭配到SGM100的輸入端，定義成相應的光強或光通量等光學單位。
除了具吸引力的價格外，還有優秀的儀器測量精確度。SGM100是按照精密儀器標準製造的，SGM100光柵攝譜儀及其配件在出廠前都按照NIST標準校正過，USB介面隨插即用。
MEGALED-SGM100 LED光學檢測系統升級與服務
該產品的主要功能就是對LED光學特性及參數進行測量。先鋒科技憑藉多年服務業界的經驗以及強大的技術力量,對您未來成長的需求提供配套的升級服務。
實用簡單MegaLED 光譜色度分析軟體：
軟體可以支援您使用基本的LED測量，函數分析，和相應檔處理；並支援各類多功能電錶支援你所需要的LED電性分析,稍微懂得電腦的產線作業人員就能操作，保證你的生產品質。