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SI-FZ

SI-FZ斐索干涉仪

斐索干涉仪原理为等厚干涉,单色光束在标准平面或标准球面上,部分反射为参考光束;部分透射并通过被测件后反射回来的光束作为检测光束。检测光束自准返回,与参考光束重合,形成等厚干涉条纹。斐索干涉仪是检测光学元件面形、光学镜头波面像差以及光学材料均匀性等参数的一种精密仪器。

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SI-FZ斐索干涉仪

斐索干涉仪原理为等厚干涉，单色光束在标准平面或标准球面上，部分反射为参考光束；部分透射并通过被测件后反射回来的光束作为检测光束。检测光束自准返回，与参考光束重合，形成等厚干涉条纹。斐索干涉仪是检测光学元件面形、光学镜头波面像差以及光学材料均匀性等参数的一种精密仪器。

SI-FZ斐索干涉仪实验原理图：

SI-FZ斐索干涉仪组件表：

组件
干涉仪光学系统由各种组件构成，为了更加便捷的搭建或改造实验系统，也可进行单独选购。