超快时间分辨光谱测试系统_北京卓立汉光仪器有限公司

产品概述

产品概述

超快时间分辨光谱系统是由光谱仪、条纹相机、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光，分光光谱耦合到条纹相机入射狭缝，在条纹相机中，入射光经过狭缝并由透镜聚焦在条纹管阴极上，激发出的光电子通过阳极加速，入射到偏转场中的电极间，此时电压加在偏转电极上，光电子被电场偏转，激射荧光屏，以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大，并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比，因此，通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来，也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等，图像工作站用于采集数据处理分析。

超快时间分辨光谱测试系统主要功能指标：

■ 宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm

■ 高系统时间分辨率：<=6ps@最短时间窗口

■ 超快探测器：通用型条纹相机ST10

■ 测量时间窗口范围：500ps-1ms (十档可选)

■ 工作模式：静态，低频扫描，高频扫描

■ 高系统光谱分辨率：<0.1nm

■ 宽单次成谱范围：>=200nm

■ 静态（稳态）光谱采集

■ 瞬态条纹光谱成像及荧光寿命曲线采集

■ 系统集成整体控制及数据处理软件

光谱仪建议选型参数列表

光谱仪型号	Omni λ2002i	Omni-λ3004i	Omni-λ5004i	Omni λ7504i
光谱仪焦距	200mm	320mm	500mm	750mm
相对孔径	F/3.5	F/4.2	F/6.5	F/9.7
光谱分辨率（1200l/mm）	0.3nm	0.1nm	0.08nm	0.05nm
波长准确度	+/-0.2nm	+/-0.2nm	+/-0.15nm	+/-0.1nm
倒线色散 (1200l/mm)	3.6nm/mm	2.3nm/mm	1.7nm/mm	1.1nm/mm
光栅尺寸	50*50mm	68*68mm	68*68mm	68*68mm
光栅台	双光栅	三光栅	三光栅	三光栅
与条纹相机耦合	中继光路 1:1 耦合，配合二维焦面精密调节一体化底板
系统光谱分辨率 (1200l/mm-ST10)	<=0.3nm	<=0.2nm	<=0.1nm	<0.08nm
一次摄谱范围 (150 l/mm-ST10)	>200nm	>120nm	>80nm	>50nm
光谱仪入口选项	光纤及光纤接口，标准荧光样品室，镜头收集耦合，共聚焦显微收集耦合等